POTD-11 22 17-材料研究所_ARPES

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ARPES材料研究所

宾州州立澳门银河国际网站材料研究所研究生助理蒂姆皮尔斯伯利在他的戴维实验室设施中为角度分辨光电子发射光谱仪(ARPES)定位了一个用于测量的拓扑绝缘样品。 Pillsbury正在测量样品的能带结构和电子性质。

图片:帕特里克曼塞尔
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